Caractérisation et modélisation du bruit électronique de basse fréquence dans les cellules photovoltaïques

Le bruit électronique de basse fréquence (LFN) est un outil de caractérisation précis et non destructif largement utilisé en microélectronique. Il permet notamment de détecter la présence de défauts structurels dans les composants à semiconducteurs, à l'origine de niveaux électroniques indésirables appelés « pièges », réduisant leurs performances. Bien que son utilisation dans le domaine du photovoltaïque (PV) soit encore limitée, elle tend à se démocratiser et le bruit apparaît de plus en plus comme un outil pertinent et innovant de caractérisation des échantillons PV. En effet, les cellules PV sont généralement sujettes à de nombreux défauts structurels du fait de leur grande taille et des méthodes de fabrication visant à réduire leur coût de production. La découpe d'échantillons, très courante dans le domaine, peut également induire des défauts au niveau des bords, à l'origine de mécanismes de conductions parasites. Ce travail a notamment montré que le bruit électronique pouvait être un outil efficace d'identification de ces mécanismes de conduction non conventionnels. Ce séminaire a pour objectif de présenter les travaux de recherche menés sur ce sujet à l'IMEP-LaHC. La modélisation du bruit électronique dans les cellules solaires s’appuiera sur des résultats expérimentaux issus de plusieurs types d'échantillons.