Jeudi 13 Décembre
"Capteurs intégres pour objets communicants
Concept de localisation ULB opportuniste "
par Norbert DANIELE ( CEA-LETI )
Jeudi 22 Novembre
"RFID:état de l'art et perspectives"
par Smail TEDJINI (LCIS-Valence)
Jeudi 25 Octobre
"Théorie et modélisation en optique guidée : de la propagation de la lumière dans les guides d'ondes cylindriques microstructurés à l'étude des microrésonateurs optiques sur silicium"
par Philippe BOYER (IMEP-LAHC)
Vendredi 14 Septembre
"Sécurité des systèmes d'information des laboratoires"
par Catherine BALLEYDIER ( SDSI-INPG)
Jeudi 28 Juin
"Technologie «Fully Depleted SOI» : une opportunité à saisir"
par Olivier FAYNOT ( CEA-LETI)
Jeudi 14 Juin
"Quantum transport in nanowire MOSFET's"
par Marc BESCOND (IMEP-LAHC)
Jeudi 24 Mai
"Etude de l'appariement des transistors à hétérojonction Si/SiGe:C dans les filières BiCMOS"
par Stéphane DENAYE (ST-Microelectronics/IMEP-LAHC)
Jeudi 10 Mai
"Intégration d'architectures MOS 3D à nanofils empilés"
par Thomas ERNST (CEA-LETI)
Vendredi 27 Avril
"Electrical characterization and simulation of self-heating in electron devices and circuits"
par Roberto MENOZZI (Université Di Parma- Italy)
Jeudi 26 Avril
"Caractérisation et modélisation du non appariement du transistor MOSFET des filières 65 et 45 nm avancées"
par Augustin CATHIGNOL ( IMEP-LAHC)
Jeudi 19 Avril
"Spectroscopie et Imagerie Raman : méthodes et quelques applications pour l'étude de matériaux semiconducteurs"
par Michel MERMOUX
Jeudi 8 Mars
" Le MOSFET GeOI"
par Laurent CLAVELIER" ( CEA-LETI)
Jeudi 22 Fevrier
"Etude de l'effet des radiations dans le technologie SOI avancée, effets permanents"
par Marc GAILARDIN ( CEA Orsay/IMEP-LAHC)"
Jeudi 8 Fevrier
"Propriétés optiques et propriétés de transport des nanofils de semiconducteurs : quelles réponses la simulation numérique peut elle apporter"
par Yann Yves NIQUET (UCLouvain-Belgique)
Jeudi 11 Janvier
"Engineering wafers for the nanotechnology area"
par Carlos MAZURE (SOITEC)
Concept de localisation ULB opportuniste "
par Norbert DANIELE ( CEA-LETI )
Jeudi 22 Novembre
"RFID:état de l'art et perspectives"
par Smail TEDJINI (LCIS-Valence)
Jeudi 25 Octobre
par Philippe BOYER (IMEP-LAHC)
Vendredi 14 Septembre
"Sécurité des systèmes d'information des laboratoires"
par Catherine BALLEYDIER ( SDSI-INPG)
Jeudi 28 Juin
"Technologie «Fully Depleted SOI» : une opportunité à saisir"
par Olivier FAYNOT ( CEA-LETI)
Jeudi 14 Juin
"Quantum transport in nanowire MOSFET's"
par Marc BESCOND (IMEP-LAHC)
Jeudi 24 Mai
"Etude de l'appariement des transistors à hétérojonction Si/SiGe:C dans les filières BiCMOS"
par Stéphane DENAYE (ST-Microelectronics/IMEP-LAHC)
Jeudi 10 Mai
"Intégration d'architectures MOS 3D à nanofils empilés"
par Thomas ERNST (CEA-LETI)
Vendredi 27 Avril
"Electrical characterization and simulation of self-heating in electron devices and circuits"
par Roberto MENOZZI (Université Di Parma- Italy)
Jeudi 26 Avril
"Caractérisation et modélisation du non appariement du transistor MOSFET des filières 65 et 45 nm avancées"
par Augustin CATHIGNOL ( IMEP-LAHC)
Jeudi 19 Avril
"Spectroscopie et Imagerie Raman : méthodes et quelques applications pour l'étude de matériaux semiconducteurs"
par Michel MERMOUX
Jeudi 8 Mars
" Le MOSFET GeOI"
par Laurent CLAVELIER" ( CEA-LETI)
Jeudi 22 Fevrier
"Etude de l'effet des radiations dans le technologie SOI avancée, effets permanents"
par Marc GAILARDIN ( CEA Orsay/IMEP-LAHC)"
Jeudi 8 Fevrier
"Propriétés optiques et propriétés de transport des nanofils de semiconducteurs : quelles réponses la simulation numérique peut elle apporter"
par Yann Yves NIQUET (UCLouvain-Belgique)
Jeudi 11 Janvier
"Engineering wafers for the nanotechnology area"
par Carlos MAZURE (SOITEC)