Soutenance de M. Salim IGHILAHRIZ

Ces travaux de thèse ont pour objectif d'étudier la fiabilité des transistors bipolaires à hétérojonctions et des transistors MOS ainsi que des circuits analogiques fonctionnant à des fréquences à longueurs d'ondes millimétriques associés.
Des contraintes électriques et RF sont appliquées sur ces derniers afin d'accélérer leur vieillissement et leur dégradation. Des mesures de caractéristiques statiques, dynamiques et de bruit basse fréquence sont réalisées pour connaître les dégradations des composants et des circuits. Les circuits analogiques étudiés sont les éléments présents dans les chaînes de réception (Rx) ou d'émission (Tx) à savoir, des amplificateurs faible bruit (LNA), un mélangeur (mixer), un oscillateur contrôlé en tension (VCO) et un amplificateur de puissance (PA). Des simulations de vieillissement et de domaine d'utilisation fiable (ROA) sont développées afin de reproduire les dégradations obtenues à partir des mesures.

Membres du jury :
Président : Jean GAUBERT
Rapporteur : Nathalie MALBERT
Rapporteur:Christophe LALLEMENT
Directeur de thèse: Philippe BENECH
Co-directeur de thèse Jean-Michel FOURNIER
Co-encadrant de thèse: Florian CACHO
Invitée: Laurence MOQUILLON.