Soutenance de M. Salim IGHILAHRIZ
Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
Lundi 31 Mars 2014 à 10h30
Résumé de Thèse:
Résumé de Thèse:
Ces travaux de thèse ont pour objectif d'étudier la fiabilité des transistors bipolaires à hétérojonctions et des transistors MOS ainsi que des circuits analogiques fonctionnant à des fréquences à longueurs d'ondes millimétriques associés.
Des contraintes électriques et RF sont appliquées sur ces derniers afin d'accélérer leur vieillissement et leur dégradation. Des mesures de caractéristiques statiques, dynamiques et de bruit basse fréquence sont réalisées pour connaître les dégradations des composants et des circuits. Les circuits analogiques étudiés sont les éléments présents dans les chaînes de réception (Rx) ou d'émission (Tx) à savoir, des amplificateurs faible bruit (LNA), un mélangeur (mixer), un oscillateur contrôlé en tension (VCO) et un amplificateur de puissance (PA). Des simulations de vieillissement et de domaine d'utilisation fiable (ROA) sont développées afin de reproduire les dégradations obtenues à partir des mesures.
Membres du jury :
Président : Jean GAUBERT
Rapporteur : Nathalie MALBERT
Rapporteur:Christophe LALLEMENT
Directeur de thèse: Philippe BENECH
Co-directeur de thèse Jean-Michel FOURNIER
Co-encadrant de thèse: Florian CACHO
Invitée: Laurence MOQUILLON.
Des contraintes électriques et RF sont appliquées sur ces derniers afin d'accélérer leur vieillissement et leur dégradation. Des mesures de caractéristiques statiques, dynamiques et de bruit basse fréquence sont réalisées pour connaître les dégradations des composants et des circuits. Les circuits analogiques étudiés sont les éléments présents dans les chaînes de réception (Rx) ou d'émission (Tx) à savoir, des amplificateurs faible bruit (LNA), un mélangeur (mixer), un oscillateur contrôlé en tension (VCO) et un amplificateur de puissance (PA). Des simulations de vieillissement et de domaine d'utilisation fiable (ROA) sont développées afin de reproduire les dégradations obtenues à partir des mesures.
Membres du jury :
Président : Jean GAUBERT
Rapporteur : Nathalie MALBERT
Rapporteur:Christophe LALLEMENT
Directeur de thèse: Philippe BENECH
Co-directeur de thèse Jean-Michel FOURNIER
Co-encadrant de thèse: Florian CACHO
Invitée: Laurence MOQUILLON.
Partenaires
Thèse préparée dans le laboratoire IMEP-LAHC ( UMR 5130) , sous la direction de: Philippe BENECH, directeur de thèse et le cas échéant : Florian CACHO, Co-encadrant.
Documents à télécharger
Infos date
Soutenance de M. Salim IGHILAHRIZ pour une thèse de DOCTORAT de l'Université de Grenoble spécialité "Micro et Nano Electronique." intitulée :
Infos lieu
Amphithéatre M001 Phelma/ MINATEC/Grenoble-INP3 rue Parvis Louis Néel - GRENOBLE
Contact
Mr Philippe BENECH
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