Soutenance de thèse de Mr Alban ZAKA

Lundi  23 Janvier  2012 à 13h30

Résumé de thèse :
Ce travail traite de la modelisation de la programmation des memoires Flash NOR par injection de porteurs chauds et de la modelisation de certains mecanismes de degradation qui en resultent. L'etude de l'etat de l'art sur l'injection, dont la reference Monte Carlo et les modeles inclues dans les outils TCAD conventionnels, montre qu'une modelisation juste de ce phenomene necessite une approche non - locale du transport incluant la structure de bandes du silicium, les collisions avec les phonons, les interactions porteur-porteur et l'ionisation par impact. Ces ingredients sont reunis au sein d'un nouveau modele developpe durant cette these permettant de bien rendre compte des aspects microscopiques du transport des porteurs chauds. Les resultats de plusieurs modeles sont ensuite compares aux resultats experimentaux issus d'une technologie de memoires Flash embarquees 65 nm (STMicroelectronics) montrant une bonne adequation entre theorie et experience. Enfin, une approche microscopique est egalement propose afin de modeliser la degradation des dispositif due aux porteurs chauds.