Référents Opérationnels
Site de Grenoble - MINATEC (38) : Nicolas CORRAO
Site du Bourget-du-Lac - TECHNOLAC (73) : Edouard ROCHEFEUILLE
Le pôle de caractérisation aux hyperfréquences du CROMA est partagé sur les deux sites géographiques de l'unité et organisé autour de quatre grands domaines d'activités expérimentales :
- LES OBJETS RAYONNANTS ET LES MESURES EN ESPACE LIBRE
-
Référent Scientifique
Site de Grenoble - MINATEC (38) : Nhu Huan NGUYEN
BASE DE MESURE EN CHAMBRE ANECHOIQUE
Le CROMA dispose d'une base de mesure en champ lointain, dans ses locaux de Grenoble MINATEC. Entièrement faradisé et anéchoïque, cet environnement particulier est dimensionné pour reproduire des conditions de mesure en espace libre sur une large bande de fréquences, entre 800 MHz et 40 GHz.
Principales fonctionnalités disponibles :- Système de mesure automatisé CT SYSTEMES - ANT32
- Extraction du diagramme de rayonnement 3D, gain, directivité
- 3 axes angulaires motorisés Theta/Phi/Polarisation, mode de mesure rapide à la volée
- Mâts diélectriques, distance entre source et objet sous test réglable jusqu'à 3 mètres
- Antennes de référence MVG
- Analyseur vectoriel de réseaux KEYSIGHT PNA 4 ports 43.5 GHz
La configuration flexible et adaptable de l'installation permet également d'adresser d'autres types de caractérisation en espace libre.
Outre la caractérisation d'antennes :- La mesure de puissance rayonnée
- La caractérisation de matériaux
- La mesure de l'efficacité de blindage
- La mesure d'absorption et de SER
- Scanner 2D 2 axes linéaires motorisés
BASE DE MESURE 3D EN BANDE MILLIMETRIQUE
Une seconde base de mesure champ lointain en espace libre a été développée pour les dispositifs opérant aux fréquences millimétriques et cible spécifiquement les bandes V (50 - 75 GHz) et W (75 - 110 GHz). Ce banc adresse par exemple des antennes miniatures alimentées en coaxial ou en guide d'onde, mais peut également être adapté aux antennes intégrées sur puce. Dans ce cas, les mesures sont réalisées sous pointe hyperfréquence).
Principales fonctionnalités disponibles :- Système de mesure automatisé CT SYSTEMES - ANT32
- Conception simple, compact et flexible
- Extraction du diagramme de rayonnement quasi sphérique
- 2 axes angulaires motorisés Theta/Phi, un axe manuel Polarisation, mesures à la volée possibles
- Analyseur de spectre KEYSIGHT UXA 26.5 GHz (mesures scalaires)
- Synthétiseur AGILENT PSG E8257D 70 GHz + multiplieur de fréquence 75 - 110 GHz
- LA CARACTERISATION DE MATERIAUX ET L'EXTRACTION DES PROPRIETES DIELECTRIQUES
-
Référents Scientifiques
Site de Grenoble - MINATEC (38) : Tan-Phu VUONG
Site du Bourget-du-Lac - TECHNOLAC (73) : Cédric BERMOND
CARACTERISATION DE MATERIAUX POUR LES HYPERFREQUENCES
(En construction) - LA CARACTERISATION DES DISPOSITIFS DISCRETS ET INTEGRES, PASSIFS OU ACTIFS
-
Référents Scientifiques
Site de Grenoble - MINATEC (38) : Pascal XAVIER
Site du Bourget-du-Lac - TECHNOLAC (73) : Philippe ARTILLAN, Thierry LACREVAZ
CARACTERISATIONS HYPERFREQUENCES DE DISPOSITIFS DISCRETS
Le CROMA dispose d'un très large panel d'instruments de mesure aux hyperfréquences, permettant de répondre aux besoins d'un grand nombre d'applications, de quelques dizaines de MHz jusqu'à 110 GHz.
Les dispositifs testés peuvent être de natures variées, connectorisés, en boitier, en accès guide d'ondes, ou du type planaire (PCB)
Principaux domaines de mesure couverts :- Analyse vectorielle de réseaux jusqu'à 110 GHz
- Analyse spectrale jusqu'à 110 GHz
- Mesure de figure de bruit jusqu'à 26.5 GHz
- Mesure de puissance absolue jusqu'à 120 GHz
- Analyse temporelle TDR - TDT subnanoseconde jusqu'à 70 GHz
- Analyse temporelle temps réel jusqu'à 33 GHz
- Génération de signaux analogiques jusqu'à 110 GHz
CARACTERISATIONS HYPERFREQUENCES SOUS POINTES
Le pôle dispose de plusieurs solutions de mesure sous pointes qui peuvent être adaptées à la nature de l'échantillon à tester (puce ou wafer complet, RF ou photonique, matériaux ou PCB). Ces solutions s'appuient généralement sur des stations de test sous pointes manuelles ou semi-automatiques, dimensionnées pour des dispositifs jusqu'à 300mm de diamètre, passifs ou actifs. Les mesures sous conditions de température sont également réalisables. En parallèle, il est possible de mettre en oeuvre des configurations spécifiques de positionnement plus flexibles, par exemple pour des structures PCB. Toutes ces solutions peuvent être associées à des instruments de mesure jusqu'à 110 GHz (génération, analyse spectrale et vectorielle de réseaux)
Principales fonctionnalités disponibles :- Nouvelle station sous pointes manuelle 300 mm MPI TS300-THZ
- Station sous pointes semi-automatiques 300 mm CASCADE MICROTECH ELITE 300, chuck thermique jusqu'à 250°C
- Station sous manuelle 200 mm SUSS MICROTEC PM8
- Système de mesure flexible sous pointes PCB WITHWAVE T-PROBE 40 GHz à large pitch
- Sondes hyperfréquences jusqu'à 110 GHz, pitch de 50 µm à 2.5 mm
- Mesures 2 ou 4 ports, mode single ou différentiel vrai
Disponible sur le pôle d'électronique cryogénique :- Station cryogénique 150 mm SUSS MICROTECH PMC-150, mesures sous vide, sous azote (77K) ou hélium (10K)
- LES SYSTEMES OPTIQUES HYPERFREQUENCES
-
Référent Scientifique
Site de Grenoble - MINATEC (38) : Julien POETTE
SYSTEMES OPTIQUES HYPERFREQUENCES
(En construction)
Les ressources disponibles sont accessibles à tous les chercheurs du CROMA. En outre, certains bancs et équipements sont mutualisés dans le cadre de la plateforme ouverte OPEN-RA de la FMNT. Ils peuvent ainsi être mis à la disposition des acteurs académiques et industriels du domaine, au niveau local, régional et national, dans le cadre de prestations. Certaines ressources ciblées du pôle sont également accessibles plus largement, du fait de leur rattachement à la plateforme européenne INFRACHIP, pour le développement des prochaines générations de semiconducteurs, dans un contexte d'électronique durable.