Un très large panel d'équipements de test et mesure est proposé aux chercheurs du laboratoire afin de couvrir les besoins en termes de caractérisation de dispositifs passifs et actifs, de validation expérimentale des modèles théoriques développés et d'expérimentation de nouvelles architecture système.
Les moyens matériels disponibles sont organisés sous trois thématiques :
Caractérisation Radiofréquences et Hyperfréquences
La plate-forme dispose de 4 analyseurs vectoriels de réseaux et couvre un très large domaine de fréquence, allant des ondes radios jusqu'aux ondes millimétriques. Ces équipements permettent une caractérisation fréquentielle en régime petit signal de dispositifs passifs et actifs de structures planaires, coaxiales ou en boîtiers. Un système très large bande 40 MHz - 110 GHz permet notamment une analyse pleine bande sur un seul balayage et en excitation coaxiale.D'autres moyens de caractérisations sont également disponibles. La plate-forme est notamment équipées pour la caractérisation en bruit de dispositifs jusqu'à 26 GHz : mesure du facteur de bruit et extraction des paramètres de bruit. En outre, des solutions sont proposées pour l'analyse spectrale jusqu'à 75 GHz ainsi que pour l'analyse temporelle subnanoseconde.
Pour les caractérisations de dispositifs à l'échelle du micron sur tranche ou sur puce, deux stations de test sous pointes sont exploitables en combinaison avec nos instruments de mesure.
Une station manuelle dimensionnée pour des wafer de 4'' (100mm) est utilisée pour les caractérisations jusqu'à 40GHz.
Une station semi automatique accepte des dispositifs jusqu'à 12'' (300mm) et permetdes caractérisations jusqu'à 110GHz.
Dispositifs optomicroondes
La plate-forme dispose de plusieurs moyens de caractérisation mixte électrique/optique pour évaluer les performances des convertisseurs E/O et O/E utilisés par les chercheurs. Un système automatique calibré combinant une source optique à 1300 nm modulable jusqu'à 20 GHz couplée à un photodétecteur rapide est notamment disponible. Pour les applications qui nécessitent de très haute vitesse, un convertisseur O/E rapide calibré jusqu'à 65 GHz est proposé.
Un ensemble d'équipements pour la génération et l'analyse de signaux numériques permet d'évaluer les potentialités des systèmes de transmission de l'information exploitant les intéractions microonde / optique et d'en analyser les performances.
Deux types de générateurs numériques sont exploités. Un générateur de signaux pseudo aléatoires haut débit permet de générer des trames numériques PRBS jusqu'à 3 Gbits/s. Un générateur de signaux vectoriels autorise par ailleurs des codages complexes normalisés construits numériquement.
La partie traitement et analyse des liaisons numériques étudiées est confiée à deux types de récepteurs. Un système complet incluant un récepteur à transposition de fréquence, un convertisseur analogique numérique performant, le tout intégré au format VXI fournit par l'intermédiaire d'une solution logicielle l'ensemble des caractéristiques les plus représentatives de la liaison. Un oscilloscope numérique rapide large bande à 6 GHz propose une analyse temporelle temps réel des signaux transmis. 
Caractérisation CEM
La plate-forme dispose d'un volume important (130m3) entièrement dédié aux caractérisation électromagnétiques qui nécessitent un environnement exempte de toute perturbation extérieure. Une cage de Faraday de 25 m2 certifiée est déjà intégrée aux nouveaux locaux du site MINATEC et peut être exploitée par les chercheurs. Une évolution future est prévue pour l'installation d'une chambre anéchoïde à l'intérieur du volume existant. Il sera ainsi possible de disposer d'un outil complet pour la caractérisation d'antennes ou de liaisons sans fil, ou encore d'envisager des tests de rayonnement ou d'immunité des dispositifs développés par les chercheurs