Centre de radiofréquences, optique et micro-nanoélectronique des Alpes
Caractérisation électrique avancée DC et RF de composants passifs et actifs en technologie 28nm-FDSOI à température cryogénique
Quentin BERLINGARD
Mardi 19 Mars 2024 à 13h
Résumé : Ce séminaire a pour but de présenter mes travaux de thèse portant sur la caractérisation électrique DC et RF de la température ambiante jusqu’à très basse température (4K). Ces travaux ont débuté par l’étude des bancs de mesures RF à température cryogénique avec les contraintes et leurs solutions. Le banc de mesure présenté nous a permis de caractérisé des inductances et de mener une étude sur différents substrats. Nous avons également caractérisé des transistors en technologie 28 FD-SOI et démontré l’intérêt de cette technologie pour les très basses températures. Enfin l’ensemble de ces mesures nous a permis d’expliquer le fonctionnement et d’analyser les résultats de mesures d’un amplificateur à faible bruit à température cryogénique.